X荧光五十问答精选

年关了

整治了一下网上相干X荧光的疑义以及回答，期盼对友人们有所辅助。格外报酬诸位大师友人的关切回复.

1.用压片法做Ｌａ２Ｏ３，用淀粉做黏结剂，压好片后在空气中安放１５分钟后，本来很好的样本在样杯中膨胀落空了，为甚么?再有甚么好的法子？

(1)寻常压片样破裂是由于样本受压此后有应力，致使样本落空。我的意见是：A压样此后在落空以行实行剖析。（不得斯须为之）B增长压样的功夫，减小压样的压力.(2)请搜检所用淀粉中是不是含有水分？水分会致使风干粉碎。(3)轨则上应当依据样本测试准则实行测试，寻常环境下，制样有题目，现实上曾经不吻合准则了。(4)增加试样量,增大稀释比赛试.

2.SPECTRO的能量色散XRF怎么实行平日维持?当不实行样本剖析时,X光管该如那边置?

主若是谱仪室内恒温恒湿（22度左右、湿度60%如下），处境纯洁，电源褂讪，防止震荡。当不实行样本剖析时,X光管电流电压应降至最低，仪器争持恒温.

3.仅两重金属元素构成的合金，个中低含量元素为0.1%-25%公有13块标样，若是标样精度为±0.01用当前程度的XRF做准则弧线。其各点与直线和二次弧线拟和的准则弧线差错大概是几许?

(1)最紧要的是要用本身的试样做标样，制样法子要和现实运用法子一致，如此能够降服基体效应，和矿物效应。标样能够经由湿法剖析大概其余法子取得准则值。(2)是不是有水分应当从从前的剖析法子思量，同时应当能够去除某些点.(3)可用互标法！以主量元素做为内标！(4)0.0x的含量大概会有大的差错！(5)标样含量散布公道，如做好并存元素基体校订，一次线会很巴望。此外，由于含量散布较大，选好低含量样本的靠山也很紧要。

4.在熔融制样时，二氧化硅的浑浊老是存在，不知诸位有何卓识？

(1)用不含硅的熔具,可用用白金坩埚熔(2)你做的SI是不是过低了？若是很低还不如用压片.(3)应用不含硅的器械。对于高硅成分还能够接收；此外对于一些试样存在浑浊较小，同时也能够收缩熔样功夫。

5.若是有1~2个小时不必剖析,要不要将x射线管封闭呢?

不必.X荧光光管是不成以敷衍封闭的,功夫长了你须要从头老化,寻常你不必的时辰能够把功率着陆来:电压20KV,电流10mA.黄昏除了合拢x射线管其余都不必关了,如此有没有欠妥呢?黄昏除了合拢x射线管其余都不必关，争持其状况褂讪。

6.就教新的计数器若是安放不必，有没有老化局面？

提防防潮，每每没有影响。固然功夫不能无尽长。保管是关键.

7.X射线管佑侧窗＆端窗两种，侧窗的阳极接地，灯丝接负高压。端窗的则是灯丝接地。端窗型管冷却靶用的水务必是电阻很大的纯水，并应用装有离子相易树脂的轮回水装配,而侧窗型的则可用饮用水.

就教为甚么端窗的要用高电阻纯水？？含有离子相易树脂的轮回水装配用来干甚么的呢？

(1)光管孕育的99%以上的能量是调动成了热能，大批的热能定然要用轮回活动的水来带走，还不能用寻常的水，务必是高纯度的去离子水，要不一导电，光管就大概报废了，离子相易树脂便是去离子的，比方咱们刚换了轮回水的时辰瞥见电导率挺高的，运转一阵就着陆来了，这便是离子相易树脂起的影响。(2)X射线管的阴极（灯丝）所孕育的热电子在高压电场的影响下加快轰朝阳极（靶），99%以上的能量是调动成了热能，大批的热能定然要用轮回活动的水来带走，还不能用寻常的水，务必是高纯度的去离子水，要不一导电，光管就大概报废了，离子相易树脂便是去离子的，比方咱们刚换了轮回水的时辰瞥见电导率挺高的，运转一阵就着陆来了，这便是离子相易树脂起的影响。该去离子水的确直接对阳极靶实行冷却。X射线管的外部冷却水管讨论是金属的，而内部为了电绝缘却有很长一段冷却水管是螺旋状的尼龙管（为增长绝缘间隔）。阴极（灯丝）与阳极靶被封闭在高真空腔体内（防氧化及消沉X射线的衰减），由玻璃外壳牢固阳极靶并阻隔绝缘油（高压电缆插座外壳及螺旋状的尼龙管浸在高压绝缘油中）。因而请求冷却水中不能存在金属离子，免得导电孕育X射线管对地放电、击穿。去离子水的绝缘目标为2us/cm.

8.对粉末样本寻常都请求把刚做好的样本放在干枯器里保管，就教该用哪类干枯器好？

(1)底部放硅胶的玻璃干枯器便可(2)我应用两种的，一种是安放吸水硅胶的，一种是防治浓硫酸的，考究一点再把它搬到冰箱内部干枯剂能够操纵水分，放在冰箱里能够操纵温度，来到低温干枯的方针，尤其是庇护准则物资和准则溶液。

9.X荧光光谱剖析安设前的谋划

(1)按仪器表明书请求谋划试验室，包罗三相（15-20A）、单项(50A)电源，自来水（20升/分）,接地线（10欧如下），铺布防静电地板（最好），安设空调（恒温）以及除湿设施等，末了便是熟练仪器操纵表明书了。(2)再有CWY参数净化相易稳压电源或是UPS不中止电源.功率要15KVA单相稳压电源、15KVA的UPS不中止电源（单进单出、三进单出）(3)若是是临盆用的话，我感触最紧要的便是谋划准则样本了。(4)仪器安设时，请求创造商辅助做好做事弧线尤其紧要。

10.我晓得不同剖析晶体的2d值不相同，不过为甚么要用不同的材料呢？是不同的特色X射线在不同的材料上孕育的衍射不相同吗？

(1)我想还得从布拉格定律来思量吧，若都应用相同的晶体，有的元素的布拉格角就会……(2)不同材料晶体的晶格间隔不相同的啊，衍射的强度和精度都不相同的了(3)物理中衍射的道理中讲到：惟独当抑制物的巨细与光的波长相那时才会孕育衍射影响，不同的特色射线波长不同，务必筛选“相当”的晶体才行.

11.就教做黄金，白金测定确定要标样吗？黄金便是每每用户的手饰甚么的.

(1)做黄金，白金测定确定要标样，除非测定终于不算数(2)项链类的应先去污

12.用XRF测磁芯材猜中的铅,请求是PPM如下,能够测吗?

PPM如下的铅含量全部能够测，固然不能过小，比方几个PPM就对照难测了，想对其有个确切的定量务必买标样，标样内部必定有铅.

13.今日重做了一下XRF的检量线，发觉做某个元素的2theta角度时，发觉做再三所取得的2theta值都不相同，不晓得为甚么？

若是是重元素，用SC做题目就太大了若是是轻元素，用PC做就没甚么题目，计数率不同不会很大的

14.要做进料搜检，比方含量99.5的Fe2O3等,咱们的机器没有衰减器，剖析铁时强度高于KCPS，远超出了SC划定的KCPS，感触我该怎么做好些？

(1)样本制备时采纳的稀释比例加大试试(2)用FeKβ线,强度可消沉一倍(3)我也遭遇了这个题目，咱们本来的做法是消沉电流电压，对你大概不太实用哦，由于你的杂质元素若是还要衡量的话，大概对照艰巨，不过，你能够看看(4)压样法,能够列入淀粉而后再压！

15.近来我发觉有条用融样法做的弧线漂了，就做了一下表率准则化，发端功效挺好，不过没过几天就over拉，做了11个标样（自配组合标样），数据都不是很好。并且融片安放功夫长了也会有影响啊。如老用它校准也好啊。就教怎么束缚?

(1)要把漂移的起源搞理解，是仪器（参数）起源依旧处境（气、电、温度等）熔融法做类标，危机好象大一点，我对熔融法一贯不喜爱用也没有效过类标，不象直读光谱，标样褂讪，且基体大重环境不一致。(2)虽说对于熔融法,表率准则化没有甚么理论依照,但有意的确起到很好的功效,并不是不成用,但要确认仪器自己寻常且褂讪.对于校订仪器漂移的试样,要看你的强度值有多高,若是单点校订的强度值过低,大概会呈现较大的题目,单点漂移校订的强度最好热诚弧线的上端强度,相对过错会小一些,最好用两点校订仪器漂移.弧线有较大漂瞬息(仪器退换器件或此外成分引发,但仪器寻常且褂讪),为了增加重做弧线的做事量,能够采纳重校订来对原有弧线实行重校,功效也不错,筛选原弧线上两到四点,重熔片实行校订.有意不同批次的熔剂,也会对剖析中的某些元素孕育影响,与熔剂中杂质元素相干.熔融样本做标样是能够的,不过要提防吸水题目,样本在空气中的氧化题目等

16.一个硫铁矿样本，压片采纳无标样定量剖析软件实行测试，应用仪器为帕纳克Axios，剖析终于靠得住吗？

(1)我感触不成靠，存在矿物效响应粒度效应.(2)能够知足半定量请求！

17.就教熔融玻璃扣时片内有气泡的起源，怎么防止？我用的是高频感触熔融机。

大概起源有几个：熔融温度不敷或温渡太高。稀释比例过小，样本太多摇动幅度不敷坩埚的材料与“玻璃”浸湿

18.能量型与波长型比拟各有甚么优毛病?

能量性剖析地区对照小，剖析精度也差点，大概速率也慢一些，但操纵轻松

19.做粉末样本的成分剖析时,所用到的压片材料是甚么?

(1)咱们寻常用聚氯乙烯垫圈(PVC)(2)我用到PVC、铝圈和金属瓶盖，但咱们用的圈子都是一次性就报废掉的，由于圈子跟着变形。(3)咱们是本身做的一个头,恰好能放出来的.是从钢管上切下来的,那时恰好有,并且材料符合.跟着应用,钢圈轻微大了一些,但依旧能够用.不过还得提防射线管是上照依旧下照的,由于时时掉粉末!(4)通罕用钢环

20.近来咱们单元里的XRF时时呈现赤色的警报.

实质：tanktemperaturetoohigh.大概：tanktemperaturetoolow.仪器状况跟踪显示温度格外不褂讪不能褂讪在29～31摄氏度这一褂讪局限是不是水冷系统呈现了题目依旧处境达不到划定的请求？

(1)应当是跟水冷没相干连吧，咱们的XRF的水冷只用来冷却Xtube和高压箱的。(2)水冷应当有本身的警报系统。我感触是剖析室的温度，会遭到处境温度的影响。(3)我料到两个大概的起源：A.电热系统毁坏；B.方圆处境转变太大使电热系统能干为力。

21.X荧光光谱热电的仪器,探测口放一铜片的影响？

(1)有的手持式的在头部装有一个校订的样本，同时在不必的时辰也能够庇护X射线发射源。(2)铜块影响一是做能量校订，二是在意外此外样本时盖住窗口起庇护影响。

22.为甚么X射线荧光测定压片样中的Sb含量时样片厚度有影响？

(1)原子序数较低的元素（或基体）对能量较高的谱线摄取系数较低，因而无尽厚度也就大一点(2)Sb的K线能量较高，能穿透更厚的样本（相对本样本中的其余元素的特色射线），因此饱和厚度也就比其余元素厚。

23.实行合金剖析的时辰，比方测定硅锰中的si时，用甚么实行校订要好些呢？

(1)用含Si量热诚待测合金中Si含量的合金标样校订。(2)基体校订这个说法不确切。若是说基体校订的话，我想你所做的试样中惟独锰和铁能对其孕育基体上的影响。现实上，你大概是由于线性不好，因此感触应当做“基体校订”。起源是:A、大概是定值还得在确切一些。B、制样上的差错对照大。个中第二条对照首要。那没有法子，本身束缚。

24.X射线荧光光管功率为4KW,当电压40KV(很少转变这个数),电流在60-70mA之间时就会发出反常声响,不晓得这是甚么起源.

(如剖析一种元素后剖析另一种元素,设定电流在小于60和大于70,当电流回升或降落时只需电流值局限在60-70之间时就会有反常声响.)寻常功率在2kw左右会有声响的，低于或高于2kw是不该该有声响的，2kw左右时x射线管的冷却水汽化发做声响，高于2kw时水为气态，不会有声响，低于2kw水为液态也不会有声响。不同厂家仪器大概水汽化时的射线管功率不相同。

25.荧光光谱仪根基校订法子?

用标样来校订

26.DY电热融熔炉在熔铁矿石中，制成的玻璃熔片在X荧光剖析中全铁，二氧化硅元素超差较大，出入7个品味，就教是何起源？

(1)弧线未做好或溶化出题目(2)你能够测试一下熔样前提大概换个炉子试一下，搜索题目是呈目前你的炉子上，依旧你操纵的题目。

27.X荧光光谱仪有几许表率?能量色散和波长色散有何不同?

(1)每个元素的特色X荧光有不同的波长和能量，波长色散和能量色散便是操纵它的波长和能量的不同来探测。波长色散操纵晶体分光，把不同波长的特色X射线隔开，依照Bragg公式和Moseley定律做元素的定性剖析；依照元素含量越高，射线的强度就越强，经由确定的法子来校准和校订，末了实行定量剖析。能量色散不必晶体分光，直接用半导体探测器探测样本的特色X射线的能量，实行定性和定量剖析(2)有能量、波长、全反射、同步辐射、X射线微荧光、质子驱策X射线荧光。

28.X-ray用气体怎么计数?

X光负气体电离，在电场的影响下，电离后的电子和正离子离别向两极活动，在电子朝阳极的活动历程中渐渐被加快而取得更高的动能。这些电子与气体分子碰撞时，将引发进一步的电离，孕育大批的电子涌到阳极，孕育一次雪崩效应，起到强调的影响。现实上一个光子就孕育一次雪崩，用一个计数器来探测所孕育的电脉冲便可推算光子的数目。

29.有哪位友人可曾用EDX探测过纯铝中的Si（约0.05~0.1%）和Fe(约0.05~0.5%)？法子是怎么的？

(1)Fe应当很好测纯Al里的Si很不好测，起源如下：Al、Si含量出入近千倍，而Al、Si的特色射线能量靠得太近，高含量的Al在Si的地方孕育的本底（是一个随机量）足以使Si的强度激烈转变(2)轻元素在空气中谱线会被激烈摄取，孕育谱峰不出来或强度很低。在真空状况会好一些。(3)若是是用Kα的话，Al是1.，而Si是1.，很轻易就孕育烦扰。

30.分子泵内部装的是甚么，它为甚么比真空泵贵？

您说的是涡轮分子泵吗？真空泵有机器泵和涡轮分子泵和分散泵，机器泵主若是抽低真空，涡轮分子泵是抽高真空．

31.在用Ｘ－ray测Ｐb的时辰有ＰbLb1剖析线．就教有没有ＰbLb2剖析线？

(1)Pb的La、Lb1是两条最伶俐线。其余线的伶俐度很低，不便于通例应用。(2)有ＰbLb2剖析线，但其强度太弱，也便是说相对伶俐度很低，寻常环境下都采用Pb的Lb1线。

32.怎么联结谱线的峰值看EDX的测试终于？若是测得的Pb含量很高，而Pb对应的峰很小，这怎么注解？

(1)不晓得你说的含量很高,是多高?我的拙见：首先要看有没有其余元素的烦扰，比方As烦扰就对照激烈。其次要看看谱线峰值是几许,而不是高矮.(2)据我知元素的含量并不是峰高就大的,和样本中元素的驱策效率相干的.比方说你的DT是20％，阿谁时辰Pb的峰很高，不过含量不确定高由于其余元素没有驱策出来云尔。因此确定要看DT在40％～50％之间才是最好的探测终于

33.EDXRF修正周期寻常是多久?

(1)PHA（能谱漂移）校订、α（仪器漂移）校订逐日都需做。(2)定量剖析前务必做上述校订。(3)再有搜检校订也！再有伶俐度库的校订！(4)刚发端你操纵的时辰，能够先天天都做PHA修正，后来褂讪了可礼拜/次！(5)漂移校订我寻常不做，一来仪器对照褂讪，二来感触有点费事。意见在衡量样本从前先做一个监控样。

34.定量测试是不是须要悉数组分的准则样？我要测的是玻璃样本，测不出组分时辰是甚么来由，是由于含有机物么？

寻常的EDXRF能够测试Na-U之间的元素，对Na前方的元素能干无力，比方H、O等元素，因此若是是测试有机物的话，是无奈测试出来的。

35.一个前置强调器出题目为甚么会影响其余元素?

一牢固道有题目,固然会影响此外元素啊,由于此外元素大概会用这个有题目的强度实行推算校订系数的啊,是互相关连的。

36.ED-XRF的准则弧线法是甚么?用功做弧线怎么个测定?

(1)做事弧线法便是操纵准则样本先竖立一条准则的德校订弧线，测试时再依照这个弧线推算衡量终于。(2)用已知浓度的几个准则样本测强度,取得一系列响应的强度记号,列坐标柱,强度和浓度对应孕育一系列的点,连线,那末便是准则弧线.测试样本时,仪器测试到一个记号强度,对应这条弧线,能够晓得对应的浓度.(3)准则弧线法首先要有几何已知含量的准则样本,设定好测定前提后输入准则样本的含量植,而后探测准则样本,可得记号强度值,已强度值为横坐标,含量为纵坐标做图可得弧线,此后探测样本仪器直接测的强度值,便可换算出含量(4)针对XRF的准则弧线法便是将用已知含量的准则样本，设定好剖析前提后，输入确切含量，用仪器测定其样本的强度，强度为纵坐标，含量为横坐标，经由应用的软件采用回归方程，强度与含量拟合成一条准则弧线。用这条弧线用仪器剖析形状的强度后然推算成含量的弧线。(5)准则做事弧线法又叫EC法，是英文EquivalencyofConcentration的缩写。准则做事弧线法相对FP法来讲正确度较高，不过由于仪器自己存在靠山强度，致使低于靠山强度的样本呈现负值，准则品及强度漂移影响弧线的正确度、弧线的检出限及弧线上限题目。当前应对RoHS指令无益物资的准则做事弧线有：1、PVC/PE2、铜合金3、铝合金4、无铅焊锡

37.咱们应用粉末压片晌，采纳的便是寻常的准则样本，也便是使准则样本来到确定的粒度云尔。

是不是有光谱业余的准则样本呢？和咱们目前用的是不是相同呢？（首要使粉末样本，这边的光谱也首要指X射线荧光）所谓光谱准则样本指的是适当光谱剖析的准则样本,并非如试剂的品级不同化学纯-剖析纯-优级纯-高纯的这个历程寻常光谱准则样本不具备通用性,起源是价值昂贵,或是光谱标样的状况为块状,切割或从头制样对原样孕育毁坏.因此,对于试验室罕用的国度准则样本是全部符合的

38.标有“光谱纯”字样的样本，是甚么纯度？

光谱纯在起首的化学试剂品级手册中并没有不过近些年才冒出来的根基所说的光谱纯试剂指的是介于高纯和优级之间的由于高纯价值昂贵,有的准则样本没有优级这类说法又达不到高纯的纯度,但光谱能够应用,就用光谱纯来描述

39.XRD测金属件中的重金属含量准吗？

(1)还能够吧.只需元素含量不是很低，谱峰不被本底遮盖,寻常衡量依旧能够的.如矿源繁杂，且含量教高揣度要用融片法做了,毛病是融片根基是稀释了，因此弧线斜率不高.(2)XRF只可测试总Cr.辨别不了价态.XPS能够辨别价态.便是测试深度太浅,不适当ROHS

40.做事处境的温湿度的准则局限是几许?你们的XRF做事处境温湿度是几许?

首先说说咱们的.咱们的SEM做事处境的温度为15-30摄氏度,湿度最大时来到90%以上(旧年这个时辰),不过往年好些,目前广大在70%---80%.我感触湿度太大,曾经向头领提过,不过头领好象不是很情愿采办除湿器来消沉湿度.个中当温度超出28度时,XRF偶尔会产生真空室温度报警,因此寻常操纵在28如下,你们的温湿度广大在甚么局限呢(1)我的XRF就放在空调出风口，温度大概20吧，室内湿度争持在50-60(2)我公司的XRF的室温操纵在18~28摄氏度（最好举荐21~25摄氏度），相对湿度操纵在40%~70%。原本温度相对来讲对仪器的本能影响不是太大，主若是湿度确定要操纵好。(3)咱们温度请求操纵在20-25℃之间,湿度至多不能超出70%,安设工程师都是格外强调了的,达不到请求对很大概收缩X光管应用寿命(4)室内温度在10℃至35℃内，湿度为35%～80%

41.咱们公司近来刚购一台ARLX荧光议，永远褂讪性一贯都不能来到目标。测角仪和牢固道的强度转变都很大。这都和那些成分相干呢？存在空间烦扰吗？

(1)褂讪住室内温度，不要封闭仪器自己的恒温机构（纵使关机），屡屡剖析样本前做PHA调换以及阿尔法校订，采纳上述法子后，环境大概会有所革新。(2)定性不好大概的起源主若是：A、X射线管的线性不好B、计数器线性不好C、晶体角度校订差错，大概晶体角度褂讪性差D、测角仪有题目(3)仪器自己应当有各个首要机构的测试程序。比方测角仪、晶体相易器、主动进样器、狭缝相易器、光阑相易器等，操纵程序做各个单项的褂讪性，从中找出首要起源。此外，空调器不要对着仪器吹，PR气体密度褂讪性不好，也会致使归纳褂讪性不及格。

42.阿尔法校订怎么做?

有一项功课叫做准则化或阿尔法校订，便是在剖析待测样本从前，先衡量其对应的做事弧线所用的准则化样本（在竖立做事弧线时务必选定一到两个准则样本做为准则化样本或阿尔法校订样本.）来校订X射线强度的逐日转变。

43.近来光管呈现漏油,换了个光管后,悉数弧线都有较大的漂移,尤其是个中的Si,含量在50左右,漂移了8个百分点.开端认定是光管漏油后油尾随样盒投入真空室浑浊了PET晶体,众人有甚么观念?

(1)若是感触光管漏油浑浊了晶体的话，能够做一下角度扫描，看峰值是不是偏移，晶体被浑浊角度值应当会偏移的。若是晶体没有被浑浊的话，那末漏进系统的油大概是孕育终于漂移的起源了。油的成分有没有探测一下？是不是Si含量很高？上照式的光管漏油是会投入到真空室的。因此，首先断定角度值是不是偏移，而后断定一下油的成分，从这两个方面去查观察，应当能够搞理解你的题目。(2)这是除陶瓷X射线管除外，X荧光管时时遭遇的题目之一

44.定性剖析和定量剖析是甚么事理?

(1)所谓定性剖析，便是指断定物资性质的剖析，也便是说要经由各样协商权谋断定要剖析的物资的构成；定量剖析，指的是不单是要断定物资的构成，还要断定不同构成部份的数目或品质、百分比等相干音信。(2)定性剖析：审定物资中含有哪些元素、离子或官能团等。定量剖析：测定物资中相干成分的含量。《化学词典》上海词典出书社，年9月。(3)所谓定性剖析便是断定是甚么元素，定量剖析便是断定元素的含量45.目前X-ray的Windows启动有题目了，不过X-ray没有光驱．怎么把Windows软件装出来?有一个USB接口，用外置光驱带领，依旧有其余好招．(1)先看看你软件多大，目前寻常用USB盘和挪移硬盘应当均能够搞定的(2)找一个20G的挪移硬盘,设一下BIOSS,就能够了46.咱们是一家铝电解企业，由于分子泵的题目荧光仪已停用２个月，昨天换过头子泵后剖析数据偏离很残暴，能量描迹寻常，这是那边的题目？(1)这大概是真空度的题目，看看真空度是不是降落，再则看看在退换历程中是不是遭遇了电路板。(2)你说的数据差错残暴，揣度是电解质中的氧化铝吧，若是是，很寻常.

47.因做事须要,目前时时遭遇有镀层的铁件(螺丝,电池片),而用参数剖析法,取得的终于偶尔铁的含量很小,而镀层中的锌,镍比例却很大.用甚么法子才具对照确切的测出内部含有RoHS阻拦的元素?

我想铁的含量少是寻常的，这有两个起源：1)铁是基材，入射X射线经由镀层的摄取后，来到铁层曾经衰减了然，因此驱策出来的铁的荧光就少了。2)格外是应用了filter的环境下，入射X线经由挑选，Fe的X线荧光强度会更低。原本Fe的含量少是对的，由于真实要测的部位是镀层，而不是铁基体。若是能把铁基体研磨掉，只留住镀层来测是最巴望的，不过现实上做不到。FP法怎么说都是“半定量”的法子，我感触乃至连“半定量”都谈不上。不论是用FP法依旧检量线法，我争持感触最保障的判定首先依旧要断定谱中有没有目标物资的峰呈现，其次才是看定量的终于。拿螺丝来讲，若是是镀Zn的产物，若是镀层含有的Cr在几十个ppm（镀Zn的螺丝寻常是会含有Cr的，不过不能判定是6价依旧3价），那末我信托谱中确定能够看取得Cr的峰。而若是是镀Ni的螺丝，谱中是不会有Cr的峰的。附件是一个咱们测试的例子，部件也是螺丝，本来是镀Zn的，目前改为镀Ni了，你能够看到谱中Fe的峰的强度也是很低的，并且的确没有Cr的峰（CrKa15.41KeV、CrKb15.95KeV）呈现。

48.用FP法做金属时遭遇Cd值很高，但却在谱图上看不到有一点Cd的峰，这怎么注解?

你是用甚么基材的？配置方面是不是确切？寻常FP法意外Cd及Hg，只测试Pb及Cr在竖立FP法前提从前，需先用“定性-定量”扫描出材料孕育元素，若内部含有Sn的成分，那末测出的Cd值偶尔高的离谱。由于Cd谱线会遭到Sn谱线干拢。在金属内部还会遭到铅的烦扰，看看你的测试样本内部的铅含量是不是对照高。

49.XRF能做食物中的重金属探测吗？

想做墟市监测用，须要疾速测定，包罗前处置、剖析最好能一个小时搞定！不须要太确切，ppm级别吧！探测目标为生肉、鱼、少量蔬菜瓜果甚么的，剖析元素为汞，铅，铬，镉等！几十个PPM以上的XRF还能够探测，食物中的重金属含量相当少的，国际上最低的0.5PPM，X荧光怎么大概测的出来呢

50.X射线管的老化题目,为甚么要老化？不老化有甚么恶果？以及怎么老化？老化对光管的寿命有影响吗？

(1)X射线管闲置一段功夫后，其内部的真空度会有所消沉，若是不磨练而直接升到较高的kV、mA值会孕育高压放电，严峻时会致使X射线管毁坏！因而，闲置一段功夫后初度开机，确定要迟缓瓜代抬高电压、电流（屡屡阻隔5分钟），而新式仪器根基上都有主动磨练成效，可万事大吉。(2)对X光管有侵害的地点便是开、关机时，开机时的老化和关机时的冷却做得不好都邑对X光管的寿命有影响。

51.生铁中的Si剖析与化学剖析过错对照大,C和S与碳硫剖析仪对不上C的不同最大，S的剖析有意候不同对照大寻常正负2左右.剖析标样还可感触甚么会如此?

(1)我剖析大概是制样致使的不同,能够多剖析几个标样,看看怎么,若是标样剖析不出入,不过样本剖析存在不同,能够从制样历程中找起源,样本制样历程过热,也大概致使碳有不同.仅为限度观念.(2)意见用仪器创造商供给的人为晶体剖析Si（若是有的话）；每每，XRF剖析C和S没有碳硫剖析仪确切。(3)主若是基体影响孕育的。要采纳与被测样本基体类似、含量热诚的准则物资实行校订，给予降服。(4)碳剖析不是荧光强项,大差错寻常;此外元素剖析时务必思量制样题目,争持剖析样本与竖立弧线时一致.(5)C用荧光必定过错较大，依照我往昔的开采阅历，S与CS剖析仪依旧对照热诚的，大概你的准则弧线样与测试样基体不同较大，寻常产业上要天天对弧线实行维持的！(6)剖析生铁中的硅大概会呈现与化学值孕育系统性的差错,这大概是和临盆工艺及浇铸历程相干,能够采纳数学法子进宪改正,对于碳硫,大概孕育不褂讪的差错,这与制样技术,磨样力度,功夫等制样前提相干,因此,寻常生铁中碳硫最好不要用X荧光剖析,能够用碳硫仪剖析.(7)两种法子都存在过错。XRF对SI的重现性不好，其受温度影响较大，精度不高，XRF对重元素的剖析精度还能够。CS剖析仪对CS剖析的重现性很好，应能够信赖。(8)首先你要搞理解剖析法子的实用局限，断定剖析终于的谬误定度，如此题目就突现的对照显然了